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Intégration dans un volume faible d’un dispositif de caractérisation à basse température de circuits supraconducteurs
Année : 2017.
© Cyril FRESILLON / UMPhy CNRS-Thales / CNRS Photothèque.
Related tags : Electronics & signal processing, hyperfrequence, UMPHY,
In summary
Intégration dans un volume faible d'un dispositif de caractérisation à basse température de circuits supraconducteurs. Unité mixte de physique CNRS/THALES.
Au 1er plan, démonstrateur 100 fois plus petit que l’enceinte située à côté, dont il reproduit à plus petite échelle les caractéristiques. Il démontre la capacité à intégrer les fonctions de traitement du signal réalisées par des composants supraconducteurs dans un volume faible.
