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Enceinte de caractérisation à basse température de circuits supraconducteurs dits à haute température critique
Année : 2017.
© Cyril FRESILLON / UMPhy CNRS-Thales / CNRS Photothèque.
Related tags : Electronics & signal processing, hyperfrequence, UMPHY,
In summary
Enceinte de caractérisation à basse température de circuits supraconducteurs dits à haute température critique. Unité mixte de physique CNRS/THALES.
Bruno Marcilhac à côté d’une enceinte de caractérisation à basse température de circuits supraconducteurs dits à haute température critique. Ces composants servent pour le traitement du signal hyperfréquence.
